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仪器型号:IRIS Intr-epid Ⅱ XSP
主要技术指标:≤3% RSD
适用于各种地质样品中主量、微量及痕量元素的定性、半定量和定量分析。全谱直读型,同时定性和定量测定样品中40余种微量、痕量元素。主要用于地质、环境、材料、食品等领域。