1. X射线荧光光谱仪(XRF)

仪器型号：Axios PW4400

主要技术指标：光谱室温度稳定性  0.1 ºC

用于岩石、矿物、土壤等固体、粉末、熔片样品的化学元素成分快速分析。能够迅速、准确地分析从C～U之间的元素。主要用于地质、环境领域。样品经压片法和熔片法，可检测钠、镁、铝、硅、磷、硫、氯、钾、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、溴、铌、锆、锶、铷、铅、钍、钡、镧、钕、钪、铪等34个主次痕量元素。